0 ratings
Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)
Artikelnummer: 21176075

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

Artikelnummer: 21176075

SEK 2486

SEK 3267

Prisuppgifter

Exklusive frakt- och tullavgifter ( Frakt- och tullavgifter beräknas i kassan )

*Alla varor importeras från USA

24%

I lager
USA Importerad från butiken USA

Antal:

Endast 1 vara kvar i lager.
Beställ nu och få den ungefär på Torsdag, Oktober 15
Våra främsta logistikpartners
  • fedex
  • dhl
Visa mer
U-Care-garanti:
Ingen
Välj en plan
buy now pay later

Köp nu, betala senare

fast shipping

Fast
Shipping

free return

Gratis
returrätt*

Säker förpackning

Säker förpackning

100% originalprodukter

100% originalprodukter

pci-dss

PCI DSS-efterlevnad

iso certified

ISO 27001-certifierad


paypal payment
visa payment
mastercard payment
klarna payment
Note: Step Down Voltage Transformer required for using electronics products of USA store (110-120). Recommended power converters Köp nu.

Produktinformation

Find the latest developments in the field of Semiconductor Material and Device Characterization. Shop from Ubuy SVERIGE, a SVERIGE for all your needs.
  • This Third Edition updates a landmark text with the latest findingsThe Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques.Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including:Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topicsNew problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the materialIn addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter.Plus, two new chapters have been added:Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy.Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge.Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials.An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department.
Publisher Wiley-IEEE Press
Publication date June 29, 2015
Edition 3rd
Language English
Print length 800 pages
ISBN-10 0471739065
ISBN-13 978-0471739067
Item Weight 2.11 pounds (960 grams)
Dimensions 6.4 x 2 x 9.4 inches (16.3 x 5.1 x 23.9 cm)

PRODUKTBESKRIVNING

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

Har du någon fråga? Chatta med oss

Kundens frågor och svar

  • Fråga: Hur handlar jag Semiconductor Material and Device Characterization online från Ubuy?

    Svar: Det är enkelt att handla Semiconductor Material and Device Characterization online från Ubuy.. Du behöver bara söka efter produkten, välja din leveransmetod när du checkar ut och få den levererad till din plats.
  • Fråga: Är Semiconductor Material and Device Characterization tillgängligt att handla online i Sweden?

    Svar: Ja, på Ubuy Sweden är den här produkten tillgänglig för dig att handla till ett rimligt pris.. Semiconductor Material and Device Characterization är inte tillgängligt lokalt men du kan lita på oss med våra expressfrakttjänster.
  • Fråga: Hur lång tid tar det att få produkten efter beställningen?

    Svar: Leveranstiden för din beställda produkt varierar beroende på vad du har beställt och vilken fraktmetod du har valt.. Den beräknade leveranstiden nämns under kassan, så var bekymmersfri när du handlar.

Semiconductors Editorial Review

Inga redaktionella recensioner hittades

Kundrecensioner & betyg

4.6
32 kunders betyg
  • 5 stjärna
    86%
  • 4 stjärna
    7%
  • 3 stjärna
    0%
  • 2 stjärna
    0%
  • 1 stjärna
    7%

Recensera denna produkt

Dela dina tankar med andra kunder

Produktens prishistorik

Viktig information

  • Begränsningar: För produkter som skickas internationellt, observera att eventuell tillverkargaranti kanske inte är giltig; tillverkarens serviceallternativ kanske inte är tillgängliga; produktmanualer, instruktioner och säkerhetsvarningar kanske inte finns på destinationslandets språk; produkterna (och tillhörande material) kanske inte är utformade i enlighet med destinationslandets standarder, specifikationer och märkningskrav; samt produkterna kanske inte överensstämmer med destinationslandets spännings- och andra elektriska standarder (vilket kan kräva användning av en adapter eller omvandlare om det är lämpligt). Mottagaren ansvarar för att säkerställa att produkten lagligen kan importeras till destinationslandet. Vid beställning från Ubuy eller dess dotterbolag är mottagaren registrerad importör och måste följa alla lagar och regler i destinationslandet.
  • Alla produkter som visas på Ubuy är inte till försäljning, eftersom Ubuy är en global sökmotor. Produkterna omfattas av export-/handelsbestämmelser.